诊断方法

扁平足的常用诊断方法有感觉评价法、足印法、划线法、比值法、足底压力检测法、形态测量法、三维足型扫描法，以及临床有经验医生通过足姿指数（FPI）判断患者足型。

1.感觉评价法：诊断者在经验的基础上根据听觉和视觉观察患者外在足型特征，足弓有无明显塌陷或

伴有内外翻，在运动与走路时有无“啪啪”响，身姿和步频是否协调一致或出现僵硬症状。

优点：可根据患者描述以及外在观察进行主观评判，较为直观。

缺点：评价较粗糙，不能精确足底受力情况。

2.足印法：测试者赤足涂满涂料，保持平衡踩在空白纸张上留下完整足印，以第一趾跖骨内侧至足跟内侧连线。足弓的印记连在一起且没有超过足中趾连线为正常足；超过即为扁平足。

优点：简单省时且常用。

缺点：准确性较低。

3.划线法：又名三点一线法。第一线为沿第一足趾内缘至足跟处做切线，第二线为第三足趾中间至足跟中间，与第一线相交成角，平分角的划线为第三线。正常足内侧足弓边缘线位于该区域的外侧，轻度到重度扁平足足弓边缘线分别位于第三条线的内侧、中间、超出内侧。

优点：操作步骤简单快速，方法经济实惠。

缺点：测试结果较为粗糙。

4.比值法：足底印记的第一足趾内缘至足跟内侧处做一条切线，依据足空白处与足印窄区宽度比值作为评判是否为扁平足以及扁平足严重程度的指标。正常足为2：1，小于或者等于1：2时可判定为不同程度扁平足，重度扁平足则无比值。

优点：检测方法操作简单，成本低。

缺点：测试结果不够标准。

5.足底压力检测法：受试者脱掉鞋袜站立于压力板上，测试足底部受力情况。

该方法还可测得足长、足宽、压力峰值等数据，可据此基础数据计算：

①足弓指数（AI）-去除足趾后的足长划分为前足、中足、后足，中足足印面积除以整个足印面积所得②足弓高度指数（AHI）-足背高（整足长的50%处的垂直高度H）和足长（足跟最远端至第一跖趾关节的距离L）的比值判定足型。

高足弓（AI≤0.21），正常足（0.21＜AI＜0.26），扁平足（AI≥ 0.26）

高足弓（AHI≥0.356），正常足（0.275＜AHI＜0.356），扁平足（AHI ≤0.275）

优点：可有效快速且可靠的得到结果，可准确判断足底各区域的受力情况。

缺点：成本高，操作步骤较为复杂。

6.形态测量法：临床医学采用X射线对足侧面和前后进行影像学测量分析来判定足型，侧位片主要对足的纵弓进行测量评定包括：第一跖骨角（距骨长轴和第一跖骨长轴之间的夹角）、跟骨倾斜角（足底跟骨表面线与水平面之间的夹角）、第五跟跖角 （足底跟骨表面线和第五跖骨下端线之间的角度）；前后片主要评定足跟外翻和前足外展包括：跟距角（距骨头颈线与跟骨外侧面平行线之间的夹角），第一跖骨和距骨长轴线（沿距骨长轴画的线延伸到前脚，其方向与第一跖骨轴相比）距舟骨覆盖角（距骨头关节面边缘与舟骨之间的角度），较大的第一跖骨角、第五跟跖角和距舟骨覆盖角度以及较小的跟骨倾斜角代表着更严重的扁平足。

优点：所得数据精确度高重复性好。

缺点：测量数据过程复杂。

7.三维足型扫描法：受试者脱掉鞋袜，目视前方，赤足站立在三维足型扫描仪上，分别扫描左右脚，利用所连接计算机查看足型指标，通过足弓指数和踝反转指数判别。

优点：数据较为准确，能具体检测出受试者足型及高足弓、低足弓指数。

缺点：成本昂贵且有些存在扫描过程中的辐射影响等。

8.足姿指数（FPI）：受试者放松静止站立，通过距骨头触诊、外踝上下曲率、跟骨额平面位置、距骨关 节区隆起、内侧纵弓高度及角度、足趾可见度6项评分指标，每项指标评分范围为-2-2分，所有指标计算总分值，正常足为0-5分，扁平足和外翻足为6-9分， 严重外翻足为10-12分，高足弓为-1—4。是临床上、评价个体足部姿势和足踝整体功能的指标。

     以上对足型评定的各种方法中，利用影像学和三维扫描所测得的参数值具有精确度高重复性好的特点，缺点测试成本昂贵不宜普及，足印法及画线法和比例法简单高效，结合足姿指数，能够实现对不同足型的精确判定，为足型判定提供了量化依据。